Aprašymas:
Matavimai atliekami naudojant visuminės integruotos sklaidos matavimo stotį su nanosekundiniu Ekspla NL202 lazeriu. Sklaida matuojama OceanOptics etalono atžvilgiu. Matavimų tikslumas: fono sklaida 1.4x10-5 (355 nm) ir 4,5x 10-6(532 nm). Šiurkštumas pamatuojamas nuo 0,5 iki 10 nm. Stotimi galima matuoti bandinių, kurių skersmuo yra nuo 12,7 iki 28 nm ir storis nuo 2 iki 6 nm, sklaidos nuostolį.
Naudojimo galimybės:
Įvairių opinių elementų (veidrodžių, filtrų, optinių padėklų, radialinės poliarizacijos elementų ir t.y., kurie yra skirti 1064 nm, 532 ir 355 nm bangos ilgių spinduliuotei) viso paviršiaus šiurkštumo įvertinimas.
Pastabos:
a) nurodytame įkainyje nėra įskaičiuota APC personalo darbo įkainis (APC personalo darbo indėlis į paslaugos kainą priklauso nuo matavimų sudėtingumo);
b) nurodyta paslaugos kaina atitinka vienos valandos trukmės standartinio matavimo kainą;
c) 50 % nuolaida taikoma vykdantiems bendrus projektus su Vilniaus universiteto kvantinės elektronikos katedra (VU KEK), kuriuose numatytas darbo užmokestis ir pridėtinės eksploatacinės prietaiso išlaidos.